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不可大力拋丟被檢針機器檢驗物品發布者：本站 來源：本站 發布時間：2015-06-25 15:41:09 閱讀：2489次
粘(zhan)合機如(ru)何安(an)全規范的(de)操作(zuo)過程有以下幾點：
本文源自上海珠華機械儀器設備廠(//fzluos.com)，轉載請注明。
1、 驗針操作人(ren)員上(shang)班時(shi)不能穿戴任何金屬(shu)物品(pin)（例如：金屬(shu)裝飾 物、皮帶扣、耳環、項(xiang)鏈、手表、戒指、手機、電(dian)話卡(ka)、IC卡(ka)、信(xin)用卡(ka)等）； 2、 驗針人員在(zai)操(cao)作前(qian)用稀釋的清潔液清晰連輸帶，至少每周一次(ci) （清洗前(qian)必須先關掉(diao)電源開關，拔下插頭）； 3、 操(cao)作時先用試驗塊檢測，測試九點位置是否正常（底部：左(zuo)、 中、右(you)(you)；中部：左(zuo)、中、右(you)(you)；高部：左(zuo)、中、右(you)(you)）； 4、 每兩個小(xiao)時須(xu)實驗塊檢(jian)測針機一(yi)次，正(zheng)常(chang)放可繼續使用。靈敏 度 速(su)度調節按照客人要求； 5、 必須(xu)單件(jian)過粘合機； 6、 非操作(zuo)人員(yuan)不準在粘(zhan)合機四周走動，避免(mian)外界干擾機器的正常 運作(zuo)； 7、 防止震動粘(zhan)合機，不可大力拋丟被檢驗物品； 8、 粘(zhan)合機一(yi)米(mi)之內不能有金(jin)屬制品； 9、 衣物(wu)中含(han)有鈕扣、掛鉤、雞眼等金屬(shu)附屬(shu)物(wu)的，請(qing)事先(xian)使(shi)用驗 針機能對應的商品(pin)(pin)，稱為NC的商品(pin)(pin)； 10、 防止(zhi)灰塵進(jin)入(ru)機器； 11、 如本機(ji)在操(cao)作過程中(zhong)出現故(gu)障或檢測功能有問(wen)題，請停止使用 . 生活當(dang)中我們能夠看到的金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)其實(shi)非常多，而且(qie)(qie)除了(le)有金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)之外，還有一(yi)種(zhong)普通探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)。二(er)者之前存在一(yi)定(ding)的差別，而且(qie)(qie)使用的場合也有一(yi)定(ding)的區別。普通探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)主要是探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)生活當(dang)中的一(yi)些小東(dong)西，并不(bu)(bu)一(yi)定(ding)是探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)，盡管(guan)它也確(que)實(shi)有探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)的能力(li)(li)，不(bu)(bu)過它探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)的準確(que)度(du)不(bu)(bu)高。金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)在探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)過程當(dang)中對于金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)的敏感度(du)更高。而且(qie)(qie)它的探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)能力(li)(li)相比較普通的探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)也會更強。金屬(shu)(shu)(shu)(shu)(shu)探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)和(he)普通探(tan)(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)有以(yi)下(xia)幾(ji)點區別： 1、金(jin)屬探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)探(tan)測(ce)(ce)區有(you)(you)特(te)殊設計。金(jin)屬探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)區相比(bi)較普(pu)通的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)有(you)(you)一些(xie)特(te)殊的(de)(de)(de)設計。它的(de)(de)(de)磁場(chang)能力(li)更加(jia)強大，對于金(jin)屬的(de)(de)(de)敏(min)感度(du)相比(bi)較普(pu)通的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)會(hui)高(gao)很(hen)多。所以如果(guo)要想探(tan)測(ce)(ce)金(jin)屬物質有(you)(you)更高(gao)的(de)(de)(de)準確度(du)，還是要選擇(ze)金(jin)屬探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)，而不是普(pu)通的(de)(de)(de)探(tan)測(ce)(ce)器(qi)(qi)。 2、探(tan)(tan)測(ce)面積大(da)。金(jin)屬(shu)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)的(de)探(tan)(tan)測(ce)面積相比較(jiao)普(pu)通(tong)的(de)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)它的(de)探(tan)(tan)測(ce)面會更(geng)(geng)大(da)，對于探(tan)(tan)測(ce)金(jin)屬(shu)有更(geng)(geng)多(duo)的(de)先決條件。如果是利(li)用普(pu)通(tong)的(de)探(tan)(tan)測(ce)器(qi)，因為探(tan)(tan)測(ce)面非常小，那么準確(que)度自(zi)然也就會存在一定(ding)的(de)問題。 3、掃(sao)描(miao)(miao)速(su)度(du)更快。很多使用(yong)過普通探(tan)測(ce)(ce)(ce)器的(de)朋(peng)友都會(hui)有一個感受，那就是探(tan)測(ce)(ce)(ce)器分(fen)明已經放置在(zai)某個區(qu)域(yu)很長的(de)時間(jian)了，但(dan)是在(zai)顯示區(qu)域(yu)依舊沒有顯示出(chu)探(tan)測(ce)(ce)(ce)的(de)實(shi)際情(qing)況。這也(ye)就說明探(tan)測(ce)(ce)(ce)器的(de)掃(sao)描(miao)(miao)速(su)度(du)很慢。但(dan)是金(jin)屬探(tan)測(ce)(ce)(ce)器剛好相(xiang)反，只要你將探(tan)測(ce)(ce)(ce)器放到(dao)某個位置，立馬(ma)就會(hui)顯現(xian)出(chu)探(tan)測(ce)(ce)(ce)結(jie)果。掃(sao)描(miao)(miao)速(su)度(du)非常之快。 |