珠華檢(jian)針(zhen)機(ji)靈(ling)敏度(du)(du)一般(ban)在出(chu)廠(chang)的(de)時(shi)候(hou)就已經測(ce)試(shi)(shi)好了的(de)，檢(jian)針(zhen)機(ji)靈(ling)珠華檢(jian)針(zhen)機(ji)靈(ling)敏度(du)(du)測(ce)試(shi)(shi)發展有(you)時(shi)期之分(fen)，敏度(du)(du)測(ce)試(shi)(shi)發展有(you)時(shi)期之分(fen)，一般(ban)情況出(chu)廠(chang)之后檢(jian)針(zhen)機(ji)靈(ling)敏度(du)(du)的(de)測(ce)試(shi)(shi)主要分(fen)為兩(liang)個時(shi)期。

　　檢針(zhen)機靈敏(min)度(du)測試(shi)時期1：模似電(dian)路檢針(zhen)機時期：這一時期的檢針(zhen)機能檢測到1.2mm直徑(jing)的鐵球就算(suan)非常不錯的檢針(zhen)機了，生產技術(shu)大多還處于(yu)模仿階段，多采(cai)用模擬電(dian)路設計，機器性能及靈敏(min)度(du)沒法(fa)達到很高的水平。

　　檢針機靈敏度測試時(shi)(shi)期2：數(shu)字(zi)電路檢(jian)(jian)針(zhen)(zhen)機(ji)械(xie)時(shi)(shi)期：約2004年后至今，由于檢(jian)(jian)針(zhen)(zhen)機(ji)數(shu)字(zi)時(shi)(shi)代的到來，國內部分檢(jian)(jian)針(zhen)(zhen)機(ji)生(sheng)(sheng)產企業的生(sheng)(sheng)產技術已(yi)經發生(sheng)(sheng)很(hen)大的提高(gao)，此時(shi)(shi)的檢(jian)(jian)針(zhen)(zhen)靈(ling)敏(min)度都采用了標準(zhun)測試卡作為檢(jian)(jian)針(zhen)(zhen)靈(ling)敏(min)度測試標準(zhun)。